UL 1642
▍Kio estas PSE-Atestado?
PSE (Product Safety of Electrical Appliance & Material) estas deviga atestadsistemo en Japanio. Ĝi ankaŭ estas nomita "Konformo-Inspektado" kiu ĝi estas deviga merkatalirsistemo por elektra aparato. PSE-atestilo konsistas el du partoj: EMC kaj produkta sekureco kaj ĝi ankaŭ estas grava reguligo de japana sekureca leĝo por elektra aparato.
▍Atestada Normo por litiaj kuirilaroj
Interpreto por METI Preskribo por Teknikaj Postuloj (H25.07.01)， Apendico 9，Litiojonaj sekundaraj baterioj
▍Kial MCM?
● Kvalifikitaj instalaĵoj: MCM estas ekipita per kvalifikitaj instalaĵoj kiuj povas esti ĝis la tutaj PSE-testnormoj kaj fari testojn inkluzive de devigita interna kurta cirkvito ktp. Ĝi ebligas al ni provizi malsamajn personecigitajn testajn raportojn en la formato de JET, TUVRH kaj MCM ktp. .
● Teknika subteno: MCM havas profesian teamon de 11 teknikaj inĝenieroj specialigitaj pri PSE-testnormoj kaj regularoj, kaj kapablas oferti la plej novajn PSE-regularojn kaj novaĵojn al klientoj en preciza, ampleksa kaj rapida maniero.
● Diversigita servo: MCM povas elsendi raportojn en la angla aŭ la japana por renkonti la bezonon de klientoj. Ĝis nun, MCM kompletigis pli ol 5000 PSE-projektojn por klientoj entute.
Nova versio deUL 1642estis liberigita. Alternativo al pezaj efiktestoj estas aldonita por saketĉeloj. La specifaj postuloj estas: Por sakoĉelo kun kapacito kiu estas pli granda ol 300 mAh, se trapasas la peza trafo-testo ne estis pasita, ili povas esti submetitaj al Sekcio 14A-ronda verga eltrudtesto.Pouchĉelo havas neniun malmolan kazon, kiu ofte kondukas al ĉela rompo, krano-frakturo, derompaĵoj elflugante kaj aliaj gravaj damaĝoj kaŭzitaj de malsukceso en peza trafo-testo, kaj malebligas detekti la internan fuŝkontakton kaŭzitan de la dezajnodifekto aŭ proceza difekto. Kun ronda bastono-premtesto, eblaj difektoj en la ĉelo povas esti detektitaj sen difektado de la ĉelstrukturo. La revizio estis farita kun ĉi tiu situacio en konsidero.Metu specimenon sur plata surfaco. Metu rondan ŝtalstangon kun diametro de 25±1mm sur la supro de la specimeno. La rando de la bastono devas esti vicigita kun la supra rando de la ĉelo, kun la vertikala akso perpendikulara al la langeto (FIG. 1). La longo de la bastono devas esti almenaŭ 5 mm pli larĝa ol ĉiu rando de la prova specimeno. Por ĉeloj kun pozitivaj kaj negativaj langetoj sur kontraŭaj flankoj, ĉiu flanko de la langeto devas esti provita. Ĉiu flanko de langeto devas esti provita sur malsamaj specimenoj.Mezurado de dikeco (toleremo ± 0,1 mm) por ĉeloj devas esti farita antaŭ testado laŭ Apendico A de IEC 61960-3 (Malĉefaj ĉeloj kaj baterioj enhavantaj alkalajn aŭ aliajn ne- acidaj elektrolitoj - Porteblaj sekundaraj litioĉeloj kaj baterioj - Parto 3: Prismaj kaj cilindraj litiaj sekundaraj ĉeloj kaj baterioj)
