Esploro priRekta KurentoRezisto,
Rekta Kurento,

▍Kio estas CTIA ATESTO?

CTIA, la mallongigo de Ĉela Telekomunikado kaj Interreta Asocio, estas neprofitcela civita organizo establita en 1984 por garantii profiton de funkciigistoj, produktantoj kaj uzantoj. CTIA konsistas el ĉiuj usonaj funkciigistoj kaj produktantoj de moveblaj radioservoj, same kiel el sendrataj datumservoj kaj produktoj. Subtenata de FCC (Federacia Komisiono pri Komunikado) kaj Kongreso, CTIA plenumas grandan parton de devoj kaj funkcioj, kiuj kutimis esti faritaj de la registaro. En 1991, CTIA kreis nepartian, sendependan kaj alcentrigitan produktotaksadon kaj atestadsistemon por sendrata industrio. Laŭ la sistemo, ĉiuj sendrataj produktoj en konsumanto devas fari plenumajn testojn kaj tiuj, kiuj plenumas la koncernajn normojn, ricevos uzi CTIA-markadon kaj trafi vendejajn bretojn de nordamerika komunika merkato.

CATL (CTIA Authorized Testing Laboratory) reprezentas laboratoriojn akredititaj de CTIA por testado kaj revizio. Testaj raportoj eldonitaj de CATL estus ĉiuj aprobitaj de CTIA. Dum aliaj testaj raportoj kaj rezultoj de ne-CATL ne estos rekonitaj aŭ ne havos aliron al CTIA. CATL akreditita de CTIA varias en industrioj kaj atestadoj. Nur CATL, kiu estas kvalifikita por bateria konformetesto kaj inspektado, havas aliron al bateria atestado por konformeco al IEEE1725.

▍CTIA-Bateria Testado-Normoj

a) Atesta Postulo por Bateria sistemo Konforme al IEEE1725— Aplikebla al Bateria Sistemoj kun unuĉelo aŭ pluraj ĉeloj paralele konektitaj;

b) Atestada Postulo por Bateria sistemo Konforme al IEEE1625— Aplikebla al Bateria Sistemoj kun multoblaj ĉeloj ligitaj en paralela aŭ en paralela kaj serio;

Varmaj konsiloj: Elektu ĉi-suprajn atestajn normojn ĝuste por baterioj uzataj en poŝtelefonoj kaj komputiloj. Ne misuzu IEE1725 por baterioj en poŝtelefonoj aŭ IEEE1625 por baterioj en komputiloj.

▍Kial MCM?

●Malmola Teknologio:Ekde 2014, MCM ĉeestas al konferenco pri bateria pakaĵo okazigita de CTIA en Usono ĉiujare, kaj povas akiri plej lastan ĝisdatigon kaj kompreni novajn politikajn tendencojn pri CTIA en pli rapida, preciza kaj aktiva maniero.

●Kvalifiko:MCM estas CATL akreditita de CTIA kaj estas kvalifikita por plenumi ĉiujn procezojn ligitajn al atestado inkluzive de testado, fabrikkontrolo kaj raportalŝutado.

Dum ŝarĝo kaj malŝarĝo de kuirilaroj, la kapablo estos influita de la trotensio kaŭzita de interna rezisto. Kiel kritika parametro de baterio, interna rezisto valoras esploron por analizi baterian degradadon. La interna rezisto de baterio enhavas:
Ohm-interna rezisto (RΩ) - La rezisto de klapetoj, elektrolito, apartigilo kaj aliaj komponantoj. Ŝargoj transsendo interna rezisto (Rct) - La rezisto de jonoj pasantaj langetoj kaj elektrolito. Ĉi tio reprezentas la malfacilecon de la reago de langetoj. Kutime ni povas pliigi la konduktivecon por redukti ĉi tiun reziston.Polarization Resistance (Rmt) estas la interna rezisto kaŭzita de denseco neegala de litiojonoj inter katodo kaj anodo. Polusa Rezisto estos pli alta en situacioj kiel ŝargado en malalta temperaturo aŭ alta taksita ŝargo. Normale ni mezuras la ACIR aŭ DCIR. ACIR estas la interna rezisto mezurita en 1k Hz AC-kurento. Ĉi tiu interna rezisto ankaŭ estas konata kiel Ohm-rezisto. La manko de la datumoj estas, ke ĝi ne povas rekte montri la agadon de baterio. DCIR estas mezurata per devigita konstanta kurento en mallonga tempo, en kiu la tensio senĉese ŝanĝiĝas. Se la tuja kurento estas I, kaj la ŝanĝo de tensio en tiu mallonga limtempo estas ΔＵ, laŭ Ohm-leĝo Ｒ＝ΔＵ／Ｉ Ni povas ricevi la DCIR. DCIR temas ne nur pri Ohm-interna rezisto, sed ankaŭ ŝargotransiga rezisto kaj polarizo-rezisto. Ĉiam estas malfacilaĵo pri la esplorado de DCIR de litio-jona baterio. Ĝi estas ĉefe ĉar la interna rezisto de litiojona baterio estas tre malgranda, kutime nur kelkaj mΩ. Dume kiel aktiva komponanto, estas malfacile mezuri la internan reziston rekte. Krome, la interna rezisto estas influita de la stato de medio, kiel temperaturo kaj stato de ŝargoj. Malsupre estas normoj, kiuj menciis pri kiel testi DCIR.