Temo deUL 1642nova reviziita versio - Peza efikanstataŭiga testo por saketĉelo,
UL 1642,

▍Kio estas ANATEL Homologation?

ANATEL estas mallongigo de Agencia Nacional de Telecomunicacoes kiu estas Brazila registara aŭtoritato por atestitaj komunikadproduktoj por deviga kaj libervola atestado.Ĝiaj aprobo kaj plenumaj proceduroj estas la samaj kaj por Brazilaj enlandaj kaj eksterlandaj produktoj.Se produktoj aplikeblas al deviga atestado, la testa rezulto kaj raporto devas esti konformaj al la specifitaj reguloj kaj regularoj laŭ la peto de ANATEL.Produkta atestilo devas esti donita de ANATEL unue antaŭ ol produkto estas cirkulita en merkatado kaj metita en praktikan aplikon.

▍Kiu respondecas pri Homologacio de ANATEL?

La brazilaj registaraj normaj organizoj, aliaj agnoskitaj atestaj korpoj kaj testaj laboratorioj estas ANATEL-atesta aŭtoritato por analizi la produktan sistemon de produkta unuo, kiel produkta projektprocezo, akiro, produktada procezo, post servo kaj tiel plu por kontroli la fizikan produkton por esti plenumita. kun Brazila normo.Fabrikisto devas provizi dokumentojn kaj specimenojn por testado kaj taksado.

▍Kial MCM?

● MCM posedas 10 jarojn abundan sperton kaj rimedojn en testado kaj atestada industrio: altkvalita servosistemo, profunde kvalifikita teknika teamo, rapida kaj simpla atestado kaj testaj solvoj.

● MCM kunlaboras kun multaj altkvalitaj lokaj oficiale agnoskitaj organizoj provizante diversajn solvojn, precizan kaj oportunan servon por klientoj.

Nova versio deUL 1642estis liberigita.Alternativo al pezaj efiktestoj estas aldonita por saketĉeloj.La specifaj postuloj estas: Por sakoĉelo kun kapacito kiu estas pli granda ol 300 mAh, se trapasas la peza trafo-testo ne estis pasita, ili povas esti submetitaj al Sekcio 14A-ronda verga eltrudtesto.Pouchĉelo havas neniun malmolan kazon, kiu ofte kondukas al ĉela rompo, krano-frakturo, derompaĵoj elflugante kaj aliaj gravaj damaĝoj kaŭzitaj de malsukceso en peza trafo-testo, kaj malebligas detekti la internan fuŝkontakton kaŭzitan de la dezajnodifekto aŭ proceza difekto.Kun ronda bastono-premtesto, eblaj difektoj en la ĉelo povas esti detektitaj sen difektado de la ĉelstrukturo.La revizio estis farita kun ĉi tiu situacio en konsidero.Metu specimenon sur plata surfaco.Metu rondan ŝtalstangon kun diametro de 25±1mm sur la supro de la specimeno.La rando de la bastono devas esti vicigita kun la supra rando de la ĉelo, kun la vertikala akso perpendikulara al la langeto (FIG. 1).La longo de la bastono devus esti almenaŭ 5 mm pli larĝa ol ĉiu rando de la testa specimeno.Por ĉeloj kun pozitivaj kaj negativaj langetoj sur kontraŭaj flankoj, ĉiu flanko de la langeto devas esti provita.Ĉiu flanko de langeto devas esti provita sur malsamaj specimenoj.Mezurado de dikeco (toleremo ± 0,1 mm) por ĉeloj devas esti farita antaŭ testado laŭ Apendico A de IEC 61960-3 (Malĉefaj ĉeloj kaj baterioj enhavantaj alkalajn aŭ aliajn ne- acidaj elektrolitoj - Porteblaj sekundaraj litiaj ĉeloj kaj baterioj - Parto 3: Prismaj kaj cilindraj litiaj sekundaraj ĉeloj kaj baterioj)